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材料分析金相顯微鏡
IE200M倒置式材料分析顯微鏡

分類:材料分析金相顯微鏡 發布時間:2020-07-03 16534次瀏覽

IE200M倒置式材料分析顯微鏡,操作簡便,附件齊全,廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、工程測量等領域。

IE200M倒置式材料分析顯微鏡

IE200M倒置式材料分析顯微鏡,操作簡便,附件齊全,廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、工程測量等領域。

產品詳情

高精度粗微動調焦機構

采用底手位粗微調同軸調焦機構,左右側均可調節,微調精度高,手動調節簡單方便,用戶能夠輕松得到清晰舒服的圖像。粗調行程為38mm,微調精度0.002。

大尺寸機械移動平臺

采用180×155mm的大尺寸平臺,右手位設置,符合常規人群操作習慣。用戶操作過程中,便于調焦機構與平臺移動的操作切換,為用戶提供效率更高的工作環境。

落射柯拉照明系統

采用180×155mm的大尺寸平臺,右手位設置,符合常規人群操作習慣。用戶操作過程中,便于調焦機構與平臺移動的操作切換,為用戶提供效率更高的工作環境。

IE200M倒置式材料分析顯微鏡配置參數

光學系統 

有限遠色差光學系統 

觀察筒 

45°傾斜,三目觀察筒,瞳距調節范圍:54-75mm,分光比:80:20

目鏡 

高眼點大視野平場目鏡PL10X/18mm,可帶測微尺 

高眼點大視野目鏡WF15X/13mm,可帶測微尺 

高眼點大視野目鏡WF20X/10mm,可帶測微尺 

物鏡 

長工作距平場消色差金相物鏡(5X、10X、20X、50X 、100X) 

轉換器 

內定位四孔轉換器 

內定位五孔轉換器 

調焦機構 

低手位粗微調同軸調焦機構,粗動每轉行程38 mm;微調精度0.02mm

載物臺 

三層機械移動平臺,面積180mmX155mm,右手低手位控制,行程:75mm×40mm

落射照明系統 

落射式柯拉照明系統,帶可變孔徑光欄和中心可調視場光欄,自適應寬電壓100V-240V,單顆5W 暖色LED燈,光強連續可調 

落射式柯拉照明系統,帶可變孔徑光欄和中心可調視場光欄,自適應寬電壓100V-240V,6V30W鹵素燈,光強連續可調 

攝影攝像 

0.5X/1X攝像接筒,C型接口,可調焦 

其他 

起偏鏡插板,固定式檢偏鏡插板,360°旋轉式檢偏鏡插板;濾色片組;高精度測微尺 

可選配件

電腦,相機,專業金相分析軟件

相關標簽: 金相顯微鏡
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