當提及半導體晶圓檢測，你的腦海里是不是出現一副復雜又專業的畫面。
但是，隨著半導體顯微鏡的出現，徹底打破了這一刻板印象，它不僅是一款功能強大的檢測工具，更是能夠讓觀察者沒有門檻地隨心探索晶圓的微觀世界。
在晶圓的生產過程中，半導體顯微鏡可用于檢測晶圓表面的缺陷、顆粒污染、劃痕等問題。例如，通過高分辨率的成像，可以清晰地觀察到晶圓表面微小的瑕疵，幫助提升晶圓的質量和成品率。
在芯片制造過程中，會使用半導體顯微鏡對晶圓進行檢測。比如在光刻環節后，利用半導體顯微鏡檢查晶圓上的圖案是否符合設計要求，包括線條的寬度、間距以及圖案的完整性等，確保芯片的功能和性能。
匯光科技現貨供應多款半導體顯微鏡，涵蓋明暗場、偏光、相襯、微分干涉、熒光、紅外等觀察方式，光學放大倍率從20倍至2000倍多種選擇，可滿足不同檢測要求，如果您有選購需求，歡迎跟我們聯絡~
