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解決方案

自動清潔度檢查系統

分類:解(jie)決方案 發布時間:2020-06-30 15401次瀏(liu)覽

自(zi)(zi)動(dong)(dong)清(qing)潔(jie)度檢(jian)查系統(tong)采用高整(zheng)合(he)的自(zi)(zi)動(dong)(dong)分析系統(tong) ,整(zheng)合(he)進(jin)口(kou)顯微鏡、進(jin)口(kou)數碼設備(bei)、進(jin)口(kou) XYZ-3軸電動(dong)(dong)掃描臺。可采用項目化管理、流程化操(cao)作。因(yin)此被廣泛(fan)應用于檢(jian)測零件清(qing)潔(jie)度、油(you)液清(qing)潔(jie)度、鐵譜顆粒統(tong)計等(deng)。自(zi)(zi)動(dong)(dong)清(qing)潔(jie)度檢(jian)查系統(tong)優勢主(zhu)要包含以下幾個方面。

● 自動掃描樣品

● 多種自動聚焦算(suan)法 

● 自動拍照、視場自動定位(wei) 

● 多種檢測標準

● 自(zi)動識別反光顆粒、不反光顆粒、纖維 

● 支持跨視(shi)野超大顆粒、自動校(xiao)正(zheng)偏移(yi) 

● 提供多種統計(ji)分析工(gong)具(ju) 

● 自動校準掃描系統。

● 可靠的(de)數據交互(hu)功(gong)能 

● 支持模板化報告生(sheng)成(cheng)模式


自動掃描(miao)樣(yang)品(pin) Auto Scan,Support Multiple Scanning Area

支持多種掃描(miao)方(fang)式:矩形區(qu)(qu)域、圓形區(qu)(qu)域等(deng);滿足各種應用需(xu)要(yao);同時(shi)可測量零件清(qing)潔度、油液(ye)清(qing)潔度、鐵(tie)譜分(fen)析(xi)等(deng)。提供夾具,使(shi)樣品更平整。


多種(zhong)自動聚(ju)焦算(suan)法 Multiple Automatic Focus Algorithm

支持多種聚(ju)焦模(mo)式:補償聚(ju)焦、跟(gen)蹤(zong)聚(ju)焦、手動(dong)聚(ju)焦、EFI聚(ju)焦等(deng)。采用聚(ju)焦算法,保證(zheng)在(zai)試(shi)樣(yang)不夠平整的情況下也(ye)能獲取清晰的圖像;

自(zi)動(dong)拍照、視(shi)場自(zi)動(dong)定位 Automatic Camera and Field Position

采集(ji)過(guo)程(cheng)自動(dong)拍(pai)照(zhao)、照(zhao)片(pian)(pian)自動(dong)保存(cun),進(jin)度(du)狀態實(shi)時可見;照(zhao)片(pian)(pian)信息存(cun)入數據(ju)庫,方便查詢(xun);提供視場(chang)圖(tu)片(pian)(pian)瀏覽功能,可以實(shi)現視場(chang)定位回溯、重(zhong)新拍(pai)照(zhao)等(deng)功能。

多種檢測標準 Multi Testing Standard

支持多種國際國內標準,包括(kuo) ISO16232、ISO4406、ISO4407、NAS1638、VDA19、 STD4189、GB/T20082、GB/T14039等;支持用戶自定義評級標準。支持金屬(shu)、非(fei)金屬(shu)、纖(xian)維顆(ke)粒(li)識別統(tong)計(ji);支持顆(ke)粒(li)高(gao)度測(ce)量。


自動識別反光顆粒、不反光顆粒、纖維 Auto Analysis

系統自動識別顆(ke)(ke)粒(li)(li)(li),可(ke)以同時(shi)檢查出不反光(guang)顆(ke)(ke)粒(li)(li)(li)和反光(guang)顆(ke)(ke)粒(li)(li)(li)(一般為金屬顆(ke)(ke)粒(li)(li)(li))、纖維(wei)。自動對(dui)三種(zhong)顆(ke)(ke)粒(li)(li)(li)進行(xing)檢查分(fen)(fen)類(lei)。支持(chi)設置(zhi)各種(zhong)顆(ke)(ke)粒(li)(li)(li)的合格區(qu)間。支持(chi)自定義(yi)三種(zhong)顆(ke)(ke)粒(li)(li)(li)的區(qu)分(fen)(fen)設置(zhi)。支持(chi)陰影(ying)校正、提高識別精(jing)度;


支(zhi)持跨視野超(chao)大顆粒、自動校正(zheng)偏移

系統自(zi)動(dong)識別顆(ke)粒(li)、自(zi)動(dong)分(fen)析顆(ke)粒(li)類別、自(zi)動(dong)統計(ji)顆(ke)粒(li)參數。同時支持(chi)修改顆(ke)粒(li)。


提供多種統計分析工具:MAP圖、顆粒列表、統計結果、直方圖等;

自動校準掃描系統。

 統計與分析 Analysis and Statistics系統自動識別顆粒、自動分析顆粒類別、自動統計顆粒參數。同時支持修改顆粒。提供多種統計分析工具:MAP圖、顆粒列表、統計結果、直方圖等;

 可靠的數據交互功能

 所(suo)有(you)檢測原始圖片和統計數(shu)據都會自動存儲,方(fang)便出現問(wen)題(ti)時隨時復查。所(suo)有(you)顆粒(li)(li)數(shu)據可快速瀏覽、定位、排序。支持(chi)管(guan)理員(yuan)進行顆粒(li)(li)數(shu)據修正功(gong)能(neng),解決(jue)特殊(shu)顆粒(li)(li)及聚集顆粒(li)(li)識(shi)別問(wen)題(ti)。


清潔度報告 Professional Cleanliness Report

支持模(mo)板(ban)化報(bao)告生(sheng)成模(mo)式(shi),包含統(tong)計數據、評(ping)級、濾片全(quan)貌(mao)圖、zui大顆粒照片等信息;可(ke)選(xuan)擇(ze)多種(zhong)報(bao)告模(mo)式(shi)。

用心服務放心使用

服務(wu)在(zai)于您(nin)的(de)需要不只是一(yi)件產品,而在(zai)于您(nin)的(de)企業或科研發展的(de)同時,有我(wo)們(men)對您(nin)的(de)要求和需要一(yi)呼即應。良好長久(jiu)的(de)合(he)作、使(shi)您(nin)獲得(de)更大利益便是我(wo)們(men)成功(gong)之(zhi)處。

該(gai)系統自問(wen)世(shi)以(yi)來,深受廣大(da)工廠、企業、大(da)學及研究所(suo)等(deng)用戶(hu)的(de)信賴和(he)支持;一旦獲(huo)取(qu),終生免費升級。

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