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山東金相顯微鏡應用之半導體芯片檢測

分類:行業動態 發布時間:2024-06-13 3746次瀏覽

金相顯微鏡放大倍數高,因此能滿足多種產品檢測,之前小編給大家展示了多種金相顯微鏡應用案例,今天給大家展示金相顯微鏡應用之半導體芯片檢測。

微信圖片_20240613161515.jpg

前幾天,我們收到客戶寄來的芯片(如上圖),單顆芯片有針頭大小,客戶需要表面觀察,為了能滿足客戶檢測需求,我們選用山東金相顯微鏡,給大家展示幾張匯光科技工程師拍照效果圖。

半導體芯片

在不同的放大倍數下,半導體芯片表面觀察的細節稍微有所不同,另外我們也為客戶展示了山東金相顯微鏡在暗場下的成像效果圖,如下圖。

半導體芯片

總的來說,用山東金相顯微鏡觀察半導體芯片,足夠的放大倍數,成像效果更清晰,除此以外,如需平面測量,只要打開軟件即可操作,如果您近期正在找一款金相顯微鏡,匯光科技歡迎大家寄樣測試或直接來我們公司試樣哦,服務電話:.

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