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分類:材料(liao)分析金(jin)相顯微(wei)鏡 發布時間:2020-07-03 18421次瀏覽
清潔度(du)(du)分析金相顯微鏡(jing)采用(yong)高整(zheng)合的(de)自動分析系統 Automatic Analysis System整(zheng)合進(jin)口(kou)(kou)顯微鏡(jing)、進(jin)口(kou)(kou)數碼設備、進(jin)口(kou)(kou) XYZ-3軸電動掃描臺;項目化管理、流程化操作。可檢測零(ling)件清潔度(du)(du)、油(you)液清潔度(du)(du)、鐵譜(pu)顆粒統計等。

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清潔度(du)分(fen)析(xi)金相顯(xian)(xian)微鏡(jing)采用(yong)高整合(he)的自(zi)動(dong)分(fen)析(xi)系統(tong) Automatic Analysis System整合(he)進(jin)口顯(xian)(xian)微鏡(jing)、進(jin)口數(shu)碼設(she)備、進(jin)口 XYZ-3軸(zhou)電動(dong)掃描臺(tai);項目(mu)化(hua)管理、流程(cheng)化(hua)操作。可檢測零件清潔度(du)、油(you)液清潔度(du)、鐵譜顆粒統(tong)計等。
產品詳情
清潔度分析金相顯(xian)微的功能如(ru)下:
1、自動掃(sao)描樣品 Auto Scan,Support Multiple Scanning Area
支持多種(zhong)掃描方式:矩形區(qu)域(yu)、圓(yuan)形區(qu)域(yu)等(deng);滿足各種(zhong)應用(yong)需要;同時(shi)可測(ce)量零(ling)件清潔(jie)度(du)、油液清潔(jie)度(du)、鐵譜分析等(deng)。提供專業夾具,使樣品更(geng)平整。
2、多種自動聚焦算法 Multiple Automatic Focus Algorithm
支持多種聚(ju)(ju)焦(jiao)模式:補(bu)償(chang)聚(ju)(ju)焦(jiao)、跟蹤聚(ju)(ju)焦(jiao)、手(shou)動聚(ju)(ju)焦(jiao)、EFI聚(ju)(ju)焦(jiao)等(deng)。采用聚(ju)(ju)焦(jiao)算法,保證(zheng)在試樣不夠(gou)平整的情況下也(ye)能(neng)得到清晰的圖像;
3、自動拍(pai)照、視場自動定位 Automatic Camera and Field Position
采集(ji)過程自動拍照、照片(pian)自動保存,進(jin)度狀態實(shi)(shi)時可見;照片(pian)信息存入數(shu)據庫,方便查詢(xun);提供視場圖片(pian)瀏(liu)覽功能,可以實(shi)(shi)現(xian)視場定位回溯、重新拍照等功能。
4、多(duo)種檢測標準 Multi Testing Standard
支持(chi)(chi)多種(zhong)國(guo)際國(guo)內標準,包括 ISO16232、ISO4406、ISO4407、NAS1638、VDA19、 STD4189、GB/T20082、GB/T14039等;支持(chi)(chi)用戶(hu)自定義(yi)評級(ji)標準。支持(chi)(chi)金(jin)屬(shu)、非金(jin)屬(shu)、纖維顆粒(li)識別統計(ji);支持(chi)(chi)顆粒(li)高度測量。
5、自動識別(bie)反(fan)光顆粒(li)、不反(fan)光顆粒(li)、纖維 Auto Analysis
系統(tong)自動識別顆(ke)粒(li)(li),可(ke)以同時檢查出(chu)不反(fan)(fan)光顆(ke)粒(li)(li)和(he)反(fan)(fan)光顆(ke)粒(li)(li)(一般為金屬顆(ke)粒(li)(li))、纖維(wei)。自動對三(san)種顆(ke)粒(li)(li)進行檢查分類(lei)。支(zhi)(zhi)(zhi)持(chi)設置各種顆(ke)粒(li)(li)的(de)合格區(qu)間。支(zhi)(zhi)(zhi)持(chi)自定義(yi)三(san)種顆(ke)粒(li)(li)的(de)區(qu)分設置。支(zhi)(zhi)(zhi)持(chi)陰影校(xiao)正(zheng)、提高(gao)識別精度(du);
6、支持跨視(shi)野(ye)超(chao)大顆粒、自(zi)動校正偏移
系統自動識(shi)別(bie)顆粒、自動分(fen)析顆粒類(lei)別(bie)、自動統計顆粒參數。同時支持(chi)修改顆粒。
提供多種統計分析工具:MAP圖、顆粒列表、統計結果、直方圖等;
自動校準掃描系統。
統(tong)計與分析 Analysis and Statistics系統(tong)自動識(shi)別顆粒、自動分析顆粒類別、自動統(tong)計顆粒參數。同時支(zhi)持修(xiu)改顆粒。提(ti)供多種統(tong)計分析工(gong)具:MAP圖、顆粒列表、統(tong)計結果、直方圖等;
7、 可靠的數據交互功能
所(suo)(suo)有檢測原始圖片和統計數據都會(hui)自動存儲,方便出(chu)現問(wen)題時隨時復查。所(suo)(suo)有顆(ke)粒(li)數據可(ke)快(kuai)速瀏覽、定(ding)位、排(pai)序(xu)。支持管理員進行顆(ke)粒(li)數據修正(zheng)功能(neng),解(jie)決特殊顆(ke)粒(li)及聚集顆(ke)粒(li)識別(bie)問(wen)題。
8、專業清潔度報告 Professional Cleanliness Report
支持模(mo)(mo)板化報告生成模(mo)(mo)式,包(bao)含統計數據、評級、濾片全貌圖、zui大顆粒照片等信(xin)息;可選擇多種報告模(mo)(mo)式。
清潔(jie)度(du)分析金(jin)相顯微(wei)可滿足多方面(mian)需求(qiu),深受廣大工(gong)廠、企業、大學(xue)及(ji)研究所等用(yong)戶的信賴和(he)支(zhi)持,蘇州工(gong)業園區匯(hui)光科技(ji)有(you)限公司歡迎(ying)需要清潔(jie)度(du)分析的朋友(you)前來我司咨詢,選購(gou),我們將(jiang)有(you)專業的技(ji)術人員(yuan)為您答疑(yi)解惑(huo)哦。
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