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廣東工業型原子力顯微鏡
廣東工業型原子力顯微鏡AFM

分類:工業型原子力顯微鏡 發布(bu)時間:2023-03-16 24363次瀏覽

工業型原子(zi)力顯微(wei)鏡AFM主(zhu)要(yao)應用于2~8inch晶圓表面形貌(mao)的(de)綜合(he)檢測。更多詳情(qing)請繼續瀏覽本欄(lan)目(mu)。

廣東工業型原子力顯微鏡AFM

工業(ye)型(xing)原子力顯微鏡AFM主(zhu)要(yao)應用于2~8inch晶圓表面形貌(mao)的綜(zong)合檢測。更多詳情請繼續瀏覽本欄目。

產品詳情

工(gong)業型原(yuan)子(zi)力(li)顯微(wei)鏡(jing)AFM針對產品表面(mian)的形(xing)貌如粗糙度(du)、局部(bu)微(wei)觀輪廓等(deng)有 納米(mi)尺度(du)的檢測能力(li),提供(gong)原(yuan)子(zi)或近(jin)原(yuan)子(zi)及分辨率的表面(mian)形(xing)貌圖像。

工業型原(yuan)子(zi)(zi)(zi)力顯(xian)微(wei)鏡(jing)AFM的掃面(mian)原(yuan)理(li)是利用針尖原(yuan)子(zi)(zi)(zi)與樣(yang)(yang)品(pin)表面(mian)原(yuan)子(zi)(zi)(zi)間存在(zai)極(ji)微(wei)弱(ruo)的范德華力,得(de)到(dao)樣(yang)(yang)品(pin)三維(wei)表面(mian)形(xing)態(tai)影像(xiang),包(bao)括(kuo)能夠定量樣(yang)(yang)品(pin)的表面(mian)粗(cu)糙度 到(dao)?等(deng)級,此外工業型原(yuan)子(zi)(zi)(zi)力顯(xian)微(wei)鏡(jing)AFM還能獲得(de)納米(mi)級微(wei)觀結(jie)構形(xing)貌(mao)以及表面(mian)微(wei)觀缺陷等(deng)詳細(xi)信息。


工業型原子力顯微鏡AFM應用案例

●硅晶(jing)圓表面刻(ke)蝕不(bu)規則深孔結構

工業型原子力顯微鏡下硅晶圓表面刻蝕不規則深孔結構

●SiC晶圓片(pian)(碳化(hua)硅)

工業型原子力顯微鏡下的碳化硅

●GaAs晶圓片(砷化鎵)


工業型原子力顯微鏡下的砷化鎵

●GaN晶圓(yuan)片(氮化鎵)

工業型原子力顯微鏡下的氮化鎵

●藍寶石外延片(Al2O3)

●玻璃面板、光學玻璃

●微光學器件

●芯片刻蝕結構

QQ截圖20230316131635.jpg

●高深寬比光柵

工業型原子力顯微鏡下的高深寬比光柵

想了解更多工業(ye)型原子(zi)力顯微鏡檢測案例的朋友,歡迎您電話咨詢匯光科技.


工業型原子力顯微鏡技術要求

技術參數

設備

工作模式

1. 輕敲模(mo)式(shi)(Tapping mode)

2. 接觸模(mo)式(Contact mode)

3. 力(li)曲線測量模式(F-Z 曲線,RMS-Z 曲線)

工作方式

XYZ 三軸均采用壓電陶(tao)瓷(ci)驅動(dong)探針(zhen)針(zhen)尖進行掃(sao)描(miao)(miao),工作掃(sao)描(miao)(miao)時樣(yang)品保持不(bu)動(dong),樣(yang)品大小及重量完全(quan)不(bu)受掃(sao)描(miao)(miao)器的限制(zhi)

激光掃描頭

1. 掃描器:三軸(zhou)分(fen)離式(shi)掃描器

2. 掃(sao)描范(fan)圍:XY 方(fang)向(xiang)≥100um*100um,Z 方(fang)向(xiang)≥10um

3. 噪音水平:系統(tong)高度噪音 RMS≤0.05nm

4. 激(ji)光(guang)器:波長 650nm,光(guang)功率≤0.5mW

5. 光(guang)電探測器:波長帶寬 400~1100nm,靈(ling)敏度(du) 6mV/nm

XY樣品臺裝置

真空吸(xi)附式樣(yang)品(pin)載物臺,直徑(jing)≥200mm;可測試更(geng)大(da)(da)樣(yang)品(pin)直徑(jing)≥250mm,更(geng)大(da)(da)重量≥15kg; 步進電機(ji)驅(qu)動控(kong)制,可任意編程測試點(dian);樣(yang)品(pin)邊緣位(wei)置(zhi)測量精度(du)及分 辨率(lv)與中心位(wei)置(zhi)保持一致,完全(quan)不受樣(yang)品(pin)臺移動影響(xiang);樣(yang)品(pin)臺移動行(xing) 程 2000*200mm,重復定位(wei)精度(du) PV 值≤1μm

Z向進針系統

樣品趨近方式,智(zhi)能自動進針,步進馬(ma)達加(jia)壓電陶(tao)瓷自動探(tan)測的智(zhi)能進針,Z 軸升(sheng)降行程 15mm

手輪搖桿裝置

通過(guo)手輪搖(yao)桿可六個自(zi)由度任意控制樣品臺的(de)移動(dong)和(he)(he)樣品的(de)升降,方向和(he)(he)速(su)度均可根(gen)據手感來調節(jie)

輔助光學系統原位光學觀測系統,便于原位觀測和選取測試區域;同軸照明光源設 計;10X 光學物鏡和數字放大;光學顯微較小分辨率≤1μm
整機光電結構

龍(long)門架式(shi)大理石(shi)結構,穩定可靠,避免了懸臂(bei)梁結構的彈性(xing)振動;水平和垂(chui)直方向均做(zuo)了機(ji)械平衡性(xing)設計(ji),有效降低剛性(xing)結構的固有頻率

防震隔音系統日本進口氣浮式減震臺,固有頻率低至 1.5Hz,密閉式隔音箱系統, 使整臺原子力顯微鏡儀器都處在密閉的隔音箱體內部工作,可有效抑
控制器系統

內置 DSP 處理器(qi),嵌入式(shi) PID 自整(zheng)(zheng)定智能(neng)調節器(qi),無需手(shou)動(dong)設置,系統(tong)自動(dong)整(zheng)(zheng)定優化參數(shu),以 DSP 技術為基礎(chu)實現(xian)完全(quan)數(shu)字反饋控制系統(tong)

在線控制軟件

具備接(jie)觸、輕敲、抬高等多(duo)種掃(sao)描模式,多(duo)種掃(sao)描控制、多(duo)通道(dao)信號同時采集和(he)顯示、具備實時在線圖像重構(gou)及測量等功能(neng)

圖像分析軟件

具(ju)有數據(ju)導出功能,用戶(hu)(hu)可取得原始數據(ju);圖像同步(bu)功能,可指定多達(da) 4 個相關圖像同步(bu)處(chu)理;用戶(hu)(hu)任意(yi)定義的(de) 24 位系(xi)統調色(se)板(ban);圖像

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