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自動清潔度檢查系統

分(fen)類:解(jie)決方案 發布時間:2020-06-30 15091次瀏覽(lan)

自(zi)動清潔度檢查系(xi)(xi)統采(cai)用(yong)高(gao)整合(he)的自(zi)動分析系(xi)(xi)統 ,整合(he)進(jin)(jin)口(kou)顯微鏡、進(jin)(jin)口(kou)數(shu)碼(ma)設備、進(jin)(jin)口(kou) XYZ-3軸電(dian)動掃描(miao)臺。可采(cai)用(yong)項目化管理、流程化操作。因此被廣泛(fan)應用(yong)于檢測零件清潔度、油(you)液清潔度、鐵譜顆(ke)粒統計(ji)等(deng)。自(zi)動清潔度檢查系(xi)(xi)統優勢主要包含以下幾個(ge)方(fang)面(mian)。

● 自動掃描樣品

● 多(duo)種自動聚焦算法(fa) 

● 自動拍照、視場自動定位 

● 多種檢測標準

● 自動識別反光(guang)顆粒、不反光(guang)顆粒、纖維 

● 支持跨視野超大顆粒、自動校正偏移(yi) 

● 提供多種統計分析工(gong)具 

● 自動校準掃描系統。

● 可靠的數據(ju)交(jiao)互功能 

● 支(zhi)持模板化報告生成模式(shi)


自動(dong)掃(sao)描樣(yang)品 Auto Scan,Support Multiple Scanning Area

支持多(duo)種掃(sao)描方(fang)式(shi):矩形區域、圓形區域等;滿足各種應用需要;同時可測量零件清(qing)潔度(du)、油液清(qing)潔度(du)、鐵譜分析等。提供夾具,使樣品更平整。


多種自動聚焦算法 Multiple Automatic Focus Algorithm

支持(chi)多種(zhong)聚(ju)(ju)焦模式:補償聚(ju)(ju)焦、跟蹤聚(ju)(ju)焦、手動(dong)聚(ju)(ju)焦、EFI聚(ju)(ju)焦等。采用聚(ju)(ju)焦算法,保(bao)證在(zai)試樣(yang)不夠(gou)平整的情況下(xia)也能(neng)獲取清晰的圖像;

自(zi)動(dong)拍照、視場自(zi)動(dong)定(ding)位 Automatic Camera and Field Position

采集過程自(zi)動(dong)拍照(zhao)(zhao)、照(zhao)(zhao)片自(zi)動(dong)保存,進度(du)狀態(tai)實(shi)時可(ke)見;照(zhao)(zhao)片信息存入(ru)數(shu)據(ju)庫,方便查詢;提(ti)供視場(chang)圖(tu)片瀏覽功能,可(ke)以實(shi)現視場(chang)定(ding)位回溯、重新拍照(zhao)(zhao)等(deng)功能。

多(duo)種檢測標準 Multi Testing Standard

支(zhi)(zhi)(zhi)持(chi)多種國(guo)際國(guo)內標(biao)準,包括 ISO16232、ISO4406、ISO4407、NAS1638、VDA19、 STD4189、GB/T20082、GB/T14039等;支(zhi)(zhi)(zhi)持(chi)用戶自定義評(ping)級(ji)標(biao)準。支(zhi)(zhi)(zhi)持(chi)金屬、非金屬、纖維顆(ke)(ke)粒(li)識別(bie)統(tong)計;支(zhi)(zhi)(zhi)持(chi)顆(ke)(ke)粒(li)高度(du)測量。


自動識(shi)別反光顆粒、不(bu)反光顆粒、纖維 ;Auto Analysis

系統自動識別顆粒(li),可以同時檢(jian)查出不反光(guang)顆粒(li)和反光(guang)顆粒(li)(一般為(wei)金(jin)屬顆粒(li))、纖(xian)維(wei)。自動對三(san)種顆粒(li)進(jin)行檢(jian)查分類(lei)。支(zhi)持設置各種顆粒(li)的(de)合格(ge)區(qu)間。支(zhi)持自定義三(san)種顆粒(li)的(de)區(qu)分設置。支(zhi)持陰影校正、提高識別精度;


支持跨視野超大顆粒(li)、自動校正(zheng)偏(pian)移

系統(tong)自動識別顆(ke)(ke)(ke)粒、自動分析顆(ke)(ke)(ke)粒類別、自動統(tong)計顆(ke)(ke)(ke)粒參數(shu)。同時支(zhi)持(chi)修(xiu)改顆(ke)(ke)(ke)粒。


提供多種統計分析工具:MAP圖、顆粒列表、統計結果、直方圖等;

自動校準掃描系統。

 統計與分析 Analysis and Statistics系統自動識別顆粒、自動分析顆粒類別、自動統計顆粒參數。同時支持修改顆粒。提供多種統計分析工具:MAP圖、顆粒列表、統計結果、直方圖等;

 可靠的數據交互功能

 所(suo)有(you)檢測原始(shi)圖(tu)片和統計數據都會自動存(cun)儲,方便出現問題(ti)時隨時復查。所(suo)有(you)顆(ke)(ke)粒數據可快速瀏覽(lan)、定位(wei)、排序(xu)。支持管理(li)員進行顆(ke)(ke)粒數據修正功能,解(jie)決特殊顆(ke)(ke)粒及聚(ju)集顆(ke)(ke)粒識別問題(ti)。


清(qing)潔度報告 Professional Cleanliness Report

支持模板化報(bao)告(gao)生成模式(shi),包含統計(ji)數據、評級(ji)、濾(lv)片全貌圖、zui大顆粒照片等信息(xi);可選擇(ze)多種報(bao)告(gao)模式(shi)。

用心服務放心使用

服務在于您(nin)的需要不只是一件產品,而在于您(nin)的企業或(huo)科研發(fa)展的同時(shi),有我(wo)們(men)對(dui)您(nin)的要求和需要一呼(hu)即應(ying)。良好(hao)長久的合(he)作(zuo)、使您(nin)獲得更(geng)大利益便是我(wo)們(men)成功之處。

該系統自(zi)問世以來,深受廣大(da)工廠、企(qi)業、大(da)學及研究所等(deng)用戶的信(xin)賴(lai)和支持;一(yi)旦(dan)獲取(qu),終生免費升級。

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