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自動清潔度檢查系統
分類(lei)：解決(jue)方案 發布時間：2020-06-30 15222次瀏覽
自動(dong)清(qing)(qing)潔(jie)度(du)檢(jian)(jian)查系統采用(yong)高整合的自動(dong)分析系統 ，整合進(jin)口(kou)顯微鏡(jing)、進(jin)口(kou)數碼(ma)設(she)備、進(jin)口(kou) XYZ-3軸電動(dong)掃描(miao)臺。可采用(yong)項目化(hua)管理、流程化(hua)操作。因此(ci)被廣(guang)泛(fan)應用(yong)于檢(jian)(jian)測零件(jian)清(qing)(qing)潔(jie)度(du)、油液清(qing)(qing)潔(jie)度(du)、鐵譜顆(ke)粒統計等。自動(dong)清(qing)(qing)潔(jie)度(du)檢(jian)(jian)查系統優勢主要包(bao)含以下幾(ji)個方面。
● 自動掃描樣品
● 多種自動聚焦算(suan)法
● 自(zi)動拍照、視場自(zi)動定(ding)位
● 多種檢測標準
● 自動識別反光顆(ke)(ke)粒、不反光顆(ke)(ke)粒、纖維
● 支(zhi)持跨視野超大顆粒、自(zi)動(dong)校(xiao)正偏移(yi)
● 提供多種(zhong)統計分(fen)析(xi)工具(ju)
● 自動校準掃描系統。
● 可靠的數據交互功能(neng)
● 支持模板化報(bao)告生成(cheng)模式
自動掃描(miao)樣品 Auto Scan，Support Multiple Scanning Area
支持多種掃描方式：矩(ju)形區(qu)(qu)域(yu)、圓形區(qu)(qu)域(yu)等；滿足各種應用需(xu)要；同時可測量零件(jian)清(qing)潔度(du)、油液清(qing)潔度(du)、鐵譜分析等。提(ti)供夾具(ju)，使樣品更(geng)平(ping)整。
多種自動聚焦算(suan)法(fa) Multiple Automatic Focus Algorithm
支持多種聚(ju)焦(jiao)(jiao)模(mo)式：補償聚(ju)焦(jiao)(jiao)、跟蹤聚(ju)焦(jiao)(jiao)、手動(dong)聚(ju)焦(jiao)(jiao)、EFI聚(ju)焦(jiao)(jiao)等。采用聚(ju)焦(jiao)(jiao)算(suan)法，保證在試樣不夠平整的(de)情況下也能(neng)獲取清晰的(de)圖像；
自動拍照、視(shi)場自動定位 Automatic Camera and Field Position
采集過程自動(dong)拍(pai)照、照片(pian)(pian)自動(dong)保存(cun)，進度狀(zhuang)態實時可見；照片(pian)(pian)信(xin)息存(cun)入數據庫，方便查詢；提供視(shi)場圖片(pian)(pian)瀏覽(lan)功能(neng)，可以(yi)實現視(shi)場定位回(hui)溯、重新(xin)拍(pai)照等功能(neng)。
多種檢(jian)測(ce)標準 Multi Testing Standard
支(zhi)持多(duo)種國際國內(nei)標準(zhun)，包括 ISO16232、ISO4406、ISO4407、NAS1638、VDA19、 STD4189、GB/T20082、GB/T14039等；支(zhi)持用(yong)戶(hu)自定義(yi)評級標準(zhun)。支(zhi)持金屬、非金屬、纖維顆粒識別(bie)統計；支(zhi)持顆粒高度測量。
自動識別反光顆(ke)粒、不反光顆(ke)粒、纖維 Auto Analysis
系統(tong)自(zi)動(dong)識(shi)別(bie)顆(ke)(ke)粒(li)，可以同時檢查(cha)出不反光(guang)顆(ke)(ke)粒(li)和反光(guang)顆(ke)(ke)粒(li)（一般為金屬顆(ke)(ke)粒(li)）、纖維。自(zi)動(dong)對三種(zhong)顆(ke)(ke)粒(li)進行檢查(cha)分類。支(zhi)持(chi)設置各種(zhong)顆(ke)(ke)粒(li)的合格區(qu)間。支(zhi)持(chi)自(zi)定義三種(zhong)顆(ke)(ke)粒(li)的區(qu)分設置。支(zhi)持(chi)陰影(ying)校正、提高識(shi)別(bie)精度(du)；
支(zhi)持(chi)跨(kua)視野超大顆(ke)粒、自動(dong)校(xiao)正(zheng)偏移
系統自動識別(bie)顆粒(li)(li)、自動分析顆粒(li)(li)類別(bie)、自動統計顆粒(li)(li)參數。同時支持修改顆粒(li)(li)。
提供多種統計分析工具：MAP圖、顆粒列表、統計結果、直方圖等；
自動校準掃描系統。
統計與分析 Analysis and Statistics系統自動識別顆粒、自動分析顆粒類別、自動統計顆粒參數。同時支持修改顆粒。提供多種統計分析工具：MAP圖、顆粒列表、統計結果、直方圖等；
可靠的數據交互功能
所有(you)檢測原(yuan)始圖片和統計數(shu)據(ju)都(dou)會(hui)自動存儲(chu)，方便出(chu)現(xian)問(wen)題時(shi)隨時(shi)復查。所有(you)顆(ke)粒(li)數(shu)據(ju)可快速瀏覽、定位、排(pai)序。支持管(guan)理員進行顆(ke)粒(li)數(shu)據(ju)修正(zheng)功能，解決特殊顆(ke)粒(li)及(ji)聚集顆(ke)粒(li)識別問(wen)題。
清潔度報告(gao) Professional Cleanliness ;Report
支持(chi)模板化報告(gao)生成模式，包含統計數據(ju)、評級、濾片(pian)全貌圖、zui大顆粒照片(pian)等信息；可選擇(ze)多種報告(gao)模式。
用心服務放心使用
服務在(zai)于您(nin)的需(xu)(xu)要不只是(shi)一(yi)件(jian)產品(pin)，而在(zai)于您(nin)的企(qi)業(ye)或(huo)科研發展(zhan)的同時，有我們對您(nin)的要求和需(xu)(xu)要一(yi)呼即應。良好長久的合作、使您(nin)獲得(de)更大利益(yi)便是(shi)我們成功之(zhi)處。
該(gai)系統(tong)自問世以來，深受廣大工廠、企業、大學及研究所等(deng)用戶的信賴和支(zhi)持；一旦(dan)獲(huo)取，終生(sheng)免費(fei)升級(ji)。
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