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自動清潔度檢查系統
分類：解決方案 發布(bu)時(shi)間：2020-06-30 15193次瀏覽
自(zi)動清(qing)潔(jie)(jie)度(du)檢(jian)查系(xi)(xi)統(tong)采用(yong)高整合的自(zi)動分析系(xi)(xi)統(tong) ，整合進(jin)(jin)口顯微鏡(jing)、進(jin)(jin)口數碼設備、進(jin)(jin)口 XYZ-3軸電(dian)動掃描臺(tai)。可(ke)采用(yong)項目化管理(li)、流程化操作。因此被廣(guang)泛(fan)應(ying)用(yong)于檢(jian)測零件(jian)清(qing)潔(jie)(jie)度(du)、油液(ye)清(qing)潔(jie)(jie)度(du)、鐵譜顆(ke)粒統(tong)計等。自(zi)動清(qing)潔(jie)(jie)度(du)檢(jian)查系(xi)(xi)統(tong)優勢主(zhu)要包含以下幾個方面。
● 自動掃描樣品
● 多種自動聚焦算法(fa)
● 自(zi)動拍照、視場自(zi)動定位(wei)
● 多種檢測標準
● 自動識別反(fan)光顆粒、不反(fan)光顆粒、纖維
● 支持跨視野超大顆粒、自動校正(zheng)偏移
● 提供多種統計分析工具(ju)
● 自動校準掃描系統。
● 可靠的(de)數(shu)據交互功能
● 支持模板化報告(gao)生成模式
自動(dong)掃描樣品 Auto Scan，Support Multiple Scanning Area
支持多種(zhong)掃描方式(shi)：矩形區域、圓形區域等；滿足各(ge)種(zhong)應用(yong)需要；同時可測量零件清潔度、油(you)液(ye)清潔度、鐵譜分析等。提供夾(jia)具，使樣品更平整。
多種自動聚焦算法 Multiple Automatic Focus Algorithm
支持多種聚焦(jiao)模(mo)式：補償聚焦(jiao)、跟(gen)蹤聚焦(jiao)、手動(dong)聚焦(jiao)、EFI聚焦(jiao)等(deng)。采(cai)用聚焦(jiao)算法(fa)，保證在試樣不(bu)夠平整的情況下也能獲取清晰的圖像；
自動(dong)拍照、視場自動(dong)定位 Automatic Camera and Field Position
采集(ji)過(guo)程自動拍(pai)照、照片(pian)自動保存(cun)，進度狀(zhuang)態(tai)實時可(ke)見；照片(pian)信息存(cun)入數據庫(ku)，方便查詢；提(ti)供視(shi)場(chang)圖(tu)片(pian)瀏覽功能，可(ke)以(yi)實現視(shi)場(chang)定位回溯、重新拍(pai)照等功能。
多種(zhong)檢(jian)測標(biao)準(zhun) Multi Testing Standard
支(zhi)持多種國(guo)際國(guo)內標(biao)準，包(bao)括(kuo) ISO16232、ISO4406、ISO4407、NAS1638、VDA19、 STD4189、GB/T20082、GB/T14039等；支(zhi)持用戶自定義評級標(biao)準。支(zhi)持金屬(shu)、非金屬(shu)、纖維顆粒(li)識(shi)別統計(ji)；支(zhi)持顆粒(li)高度(du)測量。
自動識別(bie)反(fan)光(guang)顆粒、不(bu)反(fan)光(guang)顆粒、纖維 Auto Analysis
系(xi)統自(zi)動(dong)(dong)識(shi)別顆(ke)(ke)粒(li)(li)，可(ke)以同時檢查(cha)出不(bu)反(fan)光(guang)顆(ke)(ke)粒(li)(li)和反(fan)光(guang)顆(ke)(ke)粒(li)(li)（一(yi)般為金屬顆(ke)(ke)粒(li)(li)）、纖(xian)維。自(zi)動(dong)(dong)對三種顆(ke)(ke)粒(li)(li)進行(xing)檢查(cha)分(fen)類。支(zhi)持設(she)置(zhi)各種顆(ke)(ke)粒(li)(li)的合格區間(jian)。支(zhi)持自(zi)定義三種顆(ke)(ke)粒(li)(li)的區分(fen)設(she)置(zhi)。支(zhi)持陰(yin)影校(xiao)正(zheng)、提高識(shi)別精度；
支持跨(kua)視野超(chao)大顆(ke)粒、自動校正偏移
系統(tong)自(zi)(zi)動(dong)識別顆(ke)粒(li)、自(zi)(zi)動(dong)分析顆(ke)粒(li)類別、自(zi)(zi)動(dong)統(tong)計顆(ke)粒(li)參數(shu)。同時支持修改顆(ke)粒(li)。
提供多種統計分析工具：MAP圖、顆粒列表、統計結果、直方圖等；
自動校準掃描系統。
統計與分析 Analysis and Statistics系統自動識別顆粒、自動分析顆粒類別、自動統計顆粒參數。同時支持修改顆粒。提供多種統計分析工具：MAP圖、顆粒列表、統計結果、直方圖等；
可靠的數據交互功能
所有檢測原(yuan)始(shi)圖(tu)片和(he)統計數據都會自動存儲，方便出現問題時隨時復查。所有顆(ke)粒(li)數據可快速瀏覽、定位(wei)、排序。支持管(guan)理員進行顆(ke)粒(li)數據修正功能，解決特殊顆(ke)粒(li)及(ji)聚集顆(ke)粒(li)識別問題。
清潔度(du)報(bao)告 Professional Cleanliness Report
支持模(mo)板化(hua)報告(gao)生成模(mo)式，包含統計數據、評級、濾片全貌(mao)圖、zui大(da)顆粒照片等(deng)信(xin)息；可選擇多種報告(gao)模(mo)式。
用心服務放心使用
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該系統自問世以來，深受廣大工(gong)廠、企業、大學及研究所等用(yong)戶的信賴和(he)支持；一旦獲取，終(zhong)生免費升級(ji)。
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