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- 蘇州工業園區唯新路83號
紅外顯微鏡，專用于特(te)殊產品檢測(ce)，有需要的朋友可直接咨詢蘇州匯光科技。
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BX51-IR型近(jin)紅外顯(xian)微(wei)鏡
MX63L-IR型(xing)近紅外顯微(wei)鏡（12”晶(jing)圓檢查專用顯微(wei)鏡）
紅外物鏡
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| LMPLN5XIR | LMPLN10XIR | LCPLN20XIR | LCPLN50XIR | LCPLN100XIR注意 |
| 倍數 | 數(shu)值孔徑(jing) | 工作距(ju)離（mm） | 硅(gui)片厚度 | 分辨率（μm） |
| 5X | 0.1 | 23 | —— | 5.50 |
| 10X | 0.3 | 18 | —— | 1.83 |
| 20X | 0.45 | 8.3 | 0-1.2 | 1.22 |
| 50X | 0.65 | 4.5 | 0-1.2 | 0.85 |
| 100X | 0.85 | 1.2 | 0-1 | 0.65 |
注：分辨率(lv)在1100nm波長下計算
新舊紅外物鏡性能對比
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| LMPL20XIR（舊型(xing)號） | LCPLN20XIR（新型號） | LMPL50XIR（舊(jiu)型(xing)號） |
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| LCPLN50XIR（新型號） | LMPL100XIR（舊型號） | LCPLN100XIR（新(xin)型號） |
紅外顯微鏡的應用
– Vcsel芯片隱裂（cracks）、InGaAs瑕疵紅外無損檢測
– 法拉(la)第激光(guang)隔離器,Faraday Isolator近紅外無損檢測(ce)
– die chip 失(shi)效分析
– 紅外(wai)透(tou)射Wafer正(zheng)反面定位標記重(zhong)合(he)誤差無損測量(liang)
– 硅基(ji)半(ban)導體Wafer、碲(di)(di)化鎘CdTe、碲(di)(di)鎘汞HgCdTe襯底無(wu)損紅外檢測
– 太陽(yang)能(neng)電(dian)池組件綜合缺陷紅外(wai)檢測
Vcsel芯片隱裂(lie)（cracks）
法拉第激光隔離器膠合偏振片無損檢驗
die chip 失效分析
紅外Wafer正(zheng)反面定位標記重合(he)誤差無損測(ce)量
硅基半導體Wafer、碲(di)化鎘CdTe、碲(di)鎘汞HgCdTe襯底 缺(que)陷無損紅外(wai)檢測
太陽能電池組件綜合(he)缺(que)陷(xian)紅(hong)外檢(jian)測(ce)
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