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- 蘇州工業園區唯新路83號
8寸奧林巴斯晶圓檢查系統可對應200mm以下晶(jing)圓尺寸的硅、化(hua)合物晶(jing)圓,也可以安全有效搬(ban)送薄片晶(jing)圓,非常(chang)適合于前道(dao)到后道(dao)工程的晶(jing)圓檢查。
產品詳情
8寸奧林巴斯晶圓檢查系統特點
●適應范圍廣、搭配靈活(huo),8寸奧林巴(ba)斯晶(jing)圓檢查系統具有高度(du)實用性和高度(du)可靠性。
●8寸奧林巴斯晶(jing)圓檢(jian)查(cha)系統傳輸各(ge)種尺(chi)寸的硅片
基于硅片的尺寸(cun),AL120系(xi)列晶(jing)圓(yuan)檢查(cha)系(xi)統有(you)3種基本機(ji)型,單(dan)200mm(AL120-L8)、150mm和200mm兼(jian)容(AL120-L86)、單(dan)150mm或(huo)以下(xia)尺寸(cun)(AL120-L6)。每一(yi)款都是為了傳輸硅片已經進行顯微(wei)鏡(jing)檢查(cha)而設計。正面宏(hong)觀(guan)和背(bei)面宏(hong)觀(guan)檢查(cha)均(jun)可適用與各種尺寸(cun)的硅片。
●8寸奧林(lin)巴斯(si)晶圓檢查系(xi)統可以傳(chuan)輸超薄的硅片(pian),即薄至90um
為了應(ying)對(dui)更具(ju)有挑(tiao)戰性的超薄(bo)硅(gui)片(pian),奧林巴斯晶圓檢查(cha)(cha)系統特殊設計了傳輸手(shou)臂,可(ke)以應(ying)對(dui)25片(pian)裝的200mm的片(pian)盒以及(ji)薄(bo)至90um的硅(gui)片(pian),并完(wan)成安全傳輸和顯微鏡檢查(cha)(cha)。可(ke)通過面板預設多達10種不同厚度的硅(gui)片(pian)信息。
●精密的能力,增強宏觀檢查(cha)的功能
新款的(de)(de)具備(bei)宏觀(guan)檢(jian)查功能的(de)(de)機臺(LMB型(xing))具有(you)360度自動旋轉而完成硅(gui)片的(de)(de)每面宏觀(guan)檢(jian)查。這(zhe)一設計(ji)可以方便的(de)(de)發現硅(gui)片正反(fan)面上(shang)的(de)(de)缺陷(xian)和顆粒。另(ling)外,可以通過使(shi)用搖(yao)桿將硅(gui)片傾斜(xie)30度進(jin)行宏觀(guan)檢(jian)查。

●LCD顯(xian)示屏提(ti)供精度和操作方(fang)便性
LCD顯示屏提供給操作(zuo)者(zhe)更直觀(guan)的視(shi)覺感受,使得(de)奧林(lin)巴斯晶圓檢(jian)查系統檢(jian)查項目和次序一(yi)清二楚,以及安裝調試所需要設(she)置的參數也一(yi)目了然。檢(jian)查結果(guo)、包括操作(zuo)者(zhe)輸(shu)入的宏觀(guan)和微(wei)觀(guan)的缺(que)陷記(ji)號(hao)一(yi)并可以顯示在LCD顯示屏上,方便操作(zuo)者(zhe)的回顧(gu)。
●精密的可靠性
對于硅片(pian)的(de)(de)安(an)全性,AL120系(xi)列(lie)晶圓檢查系(xi)統采用新(xin)的(de)(de)兩種硅片(pian)檢測方式:硅片(pian)的(de)(de)厚度(du)以(yi)及在(zai)片(pian)盒中的(de)(de)位置(zhi)(zhi)。傳輸(shu)(shu)前先(xian)掃描硅片(pian)在(zai)片(pian)盒中的(de)(de)位置(zhi)(zhi)。選購的(de)(de)載物臺自動鎖死功能提高了硅片(pian)傳輸(shu)(shu)到真空載物臺的(de)(de)安(an)全性。
●強(qiang)大(da)和(he)可靠的顯微鏡
奧林巴斯半導體檢查顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)MX61通過(guo)不同的(de)觀察方式:明(ming)場、暗場、微(wei)分干涉、紅外和深紫外,都可以呈現出(chu)高清晰度和高解析的(de)圖像。配備電動物(wu)(wu)鏡(jing)轉盤(pan),與顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)主機的(de)孔徑光(guang)瀾(lan)具有聯(lian)動功(gong)能,每(mei)一次物(wu)(wu)鏡(jing)的(de)切換,孔徑光(guang)瀾(lan)也(ye)會自動變(bian)換。
●符合SEMI S2/S8 和RoHS標(biao)準
AL120系(xi)列晶圓檢查系(xi)統設計不(bu)單(dan)只(zhi)重視(shi)傳輸(shu)中的(de)硅片的(de)安全(quan),也(ye)保(bao)證操作(zuo)者的(de)安全(quan),完全(quan)符(fu)合SEMI的(de)S2和S8標準,同時也(ye)滿足(zu)了Rohs標準。
8寸奧林巴斯晶圓檢查系統技術規格
型號 | AL120-LMB12-LP | AL120-LMB12-F |
晶圓尺寸 | 300 mm(SEMI M1.15 t=775 μm)可選(xuan):200 mm | |
卡盒數 | 單盒(裝載、卸(xie)載兼用) | |
卡盒設置高度 | 900 mm | |
裝載端口 | 有 | 無 |
搬運順序 | 表(biao)面(mian)宏、內面(mian)宏、顯微鏡(jing)檢查(cha) | |
檢查模式 | 全部檢查、抽樣檢查 | |
晶圓校準 | 非接觸式中心環 | |
晶圓搬運方式 | 真空吸附機械搬運 | |
適用顯微鏡 | 半(ban)導(dao)體(ti)檢查顯微鏡MX61L | |
應用環境 | AC100~120 V,220~240 V,3.0/1.7 A,50/60 Hz ,真(zhen)空-67~-80 Kpa | |
載物臺 | XY手動吸附(fu)載(zai)物臺(tai),有XY粗(cu)調/微調和360度旋轉機構 | |
重量(不包括顯微鏡) | 約360 kg | 約270 kg |
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