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鄭州晶圓檢查系統
鄭州8寸奧林巴斯晶圓檢查系統

分類:晶圓檢查系(xi)統 發布(bu)時間:2020-12-15 16983次瀏覽

8寸奧林巴斯晶圓檢查系統可(ke)對應200mm以下晶圓(yuan)尺寸(cun)的硅、化合物晶圓(yuan),也可(ke)以安全有效搬送薄(bo)片晶圓(yuan),非(fei)常(chang)適合于前(qian)道(dao)到后道(dao)工程(cheng)的晶圓(yuan)檢查。

鄭州8寸奧林巴斯晶圓檢查系統

8寸奧林巴斯晶圓檢查系統可(ke)對應200mm以下(xia)晶(jing)(jing)圓(yuan)(yuan)尺寸(cun)的硅、化合(he)物晶(jing)(jing)圓(yuan)(yuan),也可(ke)以安(an)全(quan)有效搬送(song)薄(bo)片晶(jing)(jing)圓(yuan)(yuan),非常適(shi)合(he)于前道(dao)到后道(dao)工(gong)程的晶(jing)(jing)圓(yuan)(yuan)檢查。

產品詳情

8寸奧林巴斯晶圓檢查系統

8寸奧林巴斯晶圓檢查系統特點

●適應范圍廣、搭配靈活,8寸奧(ao)林(lin)巴斯晶圓(yuan)檢查系統具有高度(du)實用性和高度(du)可靠性。

●8寸(cun)奧(ao)林巴斯(si)晶圓檢查系(xi)統傳(chuan)輸各種尺寸(cun)的硅片

基于硅(gui)片的尺寸,AL120系(xi)列晶圓檢(jian)查(cha)系(xi)統有3種基本機型,單200mm(AL120-L8)、150mm和200mm兼(jian)容(rong)(AL120-L86)、單150mm或以下(xia)尺寸(AL120-L6)。每一款都是為了(le)傳輸硅(gui)片已經(jing)進(jin)行顯(xian)微鏡檢(jian)查(cha)而設計。正面宏(hong)觀和背面宏(hong)觀檢(jian)查(cha)均可(ke)適(shi)用與各(ge)種尺寸的硅(gui)片。

晶圓檢查系統傳輸各種尺寸的硅片

●8寸奧林巴(ba)斯(si)晶圓檢(jian)查系統(tong)可以傳輸(shu)超薄的(de)硅片,即薄至(zhi)90um

為了應(ying)對(dui)更具有挑(tiao)戰性的(de)(de)超(chao)薄(bo)硅(gui)(gui)片(pian)(pian),奧林巴斯晶圓檢(jian)查(cha)系統特殊設計(ji)了傳輸手(shou)臂(bei),可以(yi)應(ying)對(dui)25片(pian)(pian)裝的(de)(de)200mm的(de)(de)片(pian)(pian)盒以(yi)及薄(bo)至90um的(de)(de)硅(gui)(gui)片(pian)(pian),并完(wan)成(cheng)安全傳輸和顯微鏡檢(jian)查(cha)。可通過面板預設多達10種不同厚度的(de)(de)硅(gui)(gui)片(pian)(pian)信息。

●精密的(de)能(neng)力,增強宏觀檢查的(de)功(gong)能(neng)

新款(kuan)的(de)具(ju)備(bei)宏(hong)觀(guan)檢查功能的(de)機(ji)臺(tai)(LMB型)具(ju)有(you)360度自動旋轉而完成硅片(pian)的(de)每面宏(hong)觀(guan)檢查。這(zhe)一設(she)計可(ke)以方便的(de)發現(xian)硅片(pian)正反面上的(de)缺陷和顆粒(li)。另外,可(ke)以通過使用搖桿將(jiang)硅片(pian)傾(qing)斜30度進(jin)行宏(hong)觀(guan)檢查。

晶圓360°檢測顯微鏡

●LCD顯示屏提(ti)供精度和操作方便性

LCD顯示屏(ping)提供給操(cao)作(zuo)者(zhe)更直(zhi)觀(guan)的(de)視覺感受(shou),使(shi)得(de)奧林巴(ba)斯晶(jing)圓檢(jian)(jian)查系(xi)統檢(jian)(jian)查項目和次序(xu)一(yi)清二楚,以及安裝(zhuang)調試所需要設(she)置的(de)參(can)數(shu)也一(yi)目了然。檢(jian)(jian)查結果、包括操(cao)作(zuo)者(zhe)輸入(ru)的(de)宏觀(guan)和微觀(guan)的(de)缺陷記號一(yi)并可以顯示在(zai)LCD顯示屏(ping)上,方便操(cao)作(zuo)者(zhe)的(de)回顧。

晶圓檢查系統LCD顯示屏

●精密的可靠性

對(dui)于硅(gui)片(pian)的(de)安全(quan)性(xing),AL120系列晶圓(yuan)檢(jian)查系統采用新(xin)的(de)兩種硅(gui)片(pian)檢(jian)測方(fang)式:硅(gui)片(pian)的(de)厚度以及在片(pian)盒中的(de)位置。傳輸(shu)前(qian)先掃描(miao)硅(gui)片(pian)在片(pian)盒中的(de)位置。選購的(de)載物臺自動鎖(suo)死功(gong)能(neng)提高了硅(gui)片(pian)傳輸(shu)到(dao)真(zhen)空載物臺的(de)安全(quan)性(xing)。

●強大和(he)可靠的顯微鏡(jing)

奧林巴斯半導(dao)體檢(jian)查顯微鏡(jing)MX61通過不(bu)同的觀(guan)察方式:明(ming)場、暗(an)場、微分干(gan)涉、紅(hong)外和深(shen)紫外,都(dou)可以呈現出高(gao)清晰度和高(gao)解析的圖像。配備電動(dong)物鏡(jing)轉盤,與顯微鏡(jing)主機的孔徑(jing)光瀾具有聯(lian)動(dong)功能,每(mei)一次物鏡(jing)的切換,孔徑(jing)光瀾也會自動(dong)變換。

●符合(he)SEMI S2/S8 和RoHS標準

AL120系(xi)列晶(jing)圓檢查系(xi)統設(she)計不(bu)單只(zhi)重視傳輸中(zhong)的硅片的安全,也(ye)保證操作者的安全,完全符(fu)合SEMI的S2和S8標(biao)準,同時也(ye)滿足了Rohs標(biao)準。

8寸奧林巴斯晶圓檢查系統技術規格

型號

AL120-LMB12-LP

AL120-LMB12-F

晶圓尺寸

300 mm(SEMI M1.15 t=775 μm)可選:200 mm

卡盒數

單盒(裝載(zai)、卸載(zai)兼用)

卡盒設置高度

900 mm

裝載端口

搬運順序

表(biao)面宏、內面宏、顯微鏡檢查

檢查模式

全部檢查、抽樣檢查

晶圓校準

非接觸式中心環

晶圓搬運方式

真空吸附機械搬運

適用顯微鏡

半導體檢查顯微鏡MX61L

應用環境

AC100~120 V,220~240 V,3.0/1.7 A,50/60 Hz ,真(zhen)空(kong)-67~-80 Kpa

載物臺

XY手動(dong)吸附(fu)載物臺,有(you)XY粗調(diao)/微調(diao)和360度旋轉(zhuan)機(ji)構

重量(不包括(kuo)顯微鏡(jing))

約360 kg

約270 kg

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